简述测厚仪的测量原理

        测厚仪是一种用来测量物体厚度的仪器。它是使用微波和激光技术制成的。分为激光测厚仪、X射线测厚仪、薄膜测厚仪等。测厚仪的检测方法主要有：磁性测厚、辐射测厚、电解测厚、涡流测厚、超声波测厚等。
  其测量原理：
  设备测量安装支架到物体表面的距离，然后根据支架固定距离计算出物体的厚度。
  激光束在被测物体表面形成一个小光斑，成像物镜将光斑成像在光敏接收器的感光面上，并产生检测光斑在感光面上位置的电信号。当被测物体移动时，其表面光斑相对于成像物镜的位置会发生变化，光敏器件上的像点位置也会随之发生变化，可得到被测物体的实际移动距离。计算。测厚仪的检测方法主要有：磁性测厚、辐射测厚、电解测厚、涡流测厚、超声波测厚等。